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HITACHI日立電子顯微鏡（SEM/TEM/STEM）（場發射掃描電鏡（FE-SEM）、（SEM）

電子顯微鏡（SEM/TEM/STEM）（場發射掃描電子顯微鏡（FE-SEM）、掃描電子顯微鏡（SEM）、臺式顯微鏡、透射電子顯微鏡（TEM/STEM））。
高分辨熱場發射掃描電鏡
SU3900SE/SE Plus SU3800SE/SE Plus
SU3900/SU3800 SE系列作為FE-SEM產品，配置超高分辨率與觀察能力，而且不像部分SEM產品，受安裝樣品尺寸與重量的限制，此系列可以通過簡單的操作實現數據采集?？捎糜阡撹F等工業材料，汽車、航空航天部件等超大、超重樣品的觀察。
此外，SE系列包括4種型號（兩種類型，兩個等級），滿足眾多領域的測試需求。用戶可以根據實際用途（如微觀結構控制：用于改善電子元件、半導體等材料的功能和性能；異物、缺陷分析：用于提高產品品質）選擇適合的產品。
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超高分辨肖特基場發射掃描電子顯微鏡SU8700
隨著快速數據采集和數據處理技術的發展，電子顯微鏡進入了一個不僅重視數據質量，而且注重其采集過程的時代。SU8700作為一款面向新時代的SEM，在日立電鏡貫有的高圖像質量和高穩定性的基礎上，增加了包括自動獲取數據等高通量的功能。
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超高分辨場發射掃描電子顯微鏡 SU8600系列
隨著快速數據采集和數據處理技術的發展，電子顯微鏡進入了一個不僅重視數據質量，而且重視其采集過程的時代。SU8600系列秉承了Regulus8200系列的高質量圖像、大束流分析及長時間穩定運行的冷場成像技術，同時還大大提升了高通量、自動數據獲取能力。
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超高分辨率場發射掃描電子顯微鏡 SU9000II
專門為電子束敏感樣品和需*大300萬倍穩定觀察的先進半導體器件，高分辨成像所設計。
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超高分辨肖特基場發射掃描電鏡 SU7000
SU7000不僅可以在低加速電壓下獲得高畫質圖像，而且還可以同時接收多種信號。此外，它還具備大視野觀察、In-Situ觀察等FE-SEM的眾多優異性能。 SU7000是一臺實現了獲取大量信息的新型掃描電鏡，可以滿足客戶的多種觀察需求。接下來請欣賞SU7000帶來的多彩世界。
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熱場式場發射掃描電鏡 SU5000
**的“EM Wizard”界面更加直觀，僅需要“點擊”即可得到理想的圖像。超前的電腦輔助技術將電鏡的操作與控制提升到一個新水平。
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光-電聯用顯微鏡法（CLEM）系統 MirrorCLEM
MirrorCLEM是一個可簡便觀察光學顯微鏡和掃描顯微鏡同一位置的CLEM用系統。
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掃描電子顯微鏡 SU3800/SU3900
日立高新推出的掃描電鏡SU3800/SU3900兼具操作性和擴展性，結合眾多的自動化功能，可高效發揮其高性能。SU3900標配多功能超大樣品倉，可應對大型樣品的觀察。
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掃描電子顯微鏡 FlexSEM 1000 II
“先進的SEM更為緊湊” 寬幅僅為45 cm的緊湊型的設計，仍具備4.0 nm的圖像分辨率。全新開發的用戶界面和電子光學系統讓您深切體驗其高性能。
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臺式顯微鏡 TM4000II/TM4000PlusII
TM4000 II可支持20kV的加速電壓。此外，憑借Multi Zigzag（連續視野捕獲功能：可選）可實現范圍更廣的SEM觀察。并竭誠為您提供可廣泛觀察、分析的應用程序。
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TM系列專用能譜儀（EDS）AZtec系列
TM系列專用能譜儀（EDS）AZtec系列的特點是「圖標按操作流程順序排列，操作簡便」，「通過對應譜圖可簡單確認元素重疊狀況」，是「通過TruMap功能分離出譜峰重疊元素并準確顯示（AZtecOne）」。
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TM系列專用能譜儀（EDS） Quantax75
TM系列專用能譜儀（EDS） Quantax75的特點是「通過簡單操作即可迅速獲取彩色X射線面分布」，「移動到指定位置，可實時確認其譜圖」，是「超高的性能（hyper map）成就了一次測試即可獲取點分析、線分析、面分布結果」。
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球差場發射透射電子顯微鏡 HF5000
200 kV相差校正TEM/STEM，平衡了空間分辨率和傾斜、分析性能。通過單極片實現0.078 nm的STEM空間分辨率和高樣品傾斜度、高立體角EDX。
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透射電子顯微鏡HT7800系列
"RuliTEM"120 kV透射電子顯微鏡系列，包含配備高襯度透鏡，實現大視野、高對比度觀察的HT7800和配備高分辨率透鏡的HT7830。
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