株式會社小坂研究所（KOSAKA）是于 1950 年創立的公司，也是日本一家發表光學杠桿表面粗糙度計，是一家具有悠久歷史與技術背景的業廠商,主要有測定/自動/流體三大部門。其中測定部門為具代表性單位且在日本精密測定業占有一席無法被取代的地位。
KOSAKA ET200A 基于 Windows 操作系統為多種不同表面提供**的形貌分析，包括半導體硅片、太陽能基板、薄膜磁頭及磁盤、MEMS、光電子、精加工表面、生物醫學器件、薄膜/化學涂層、平板顯示、觸摸屏等。使用金剛石（鉆石）探針接觸測量的方式來實現高精度表面形貌分析應用。ET200A 能**可靠地測量出表面臺階形貌、粗糙度、波紋度、磨損度、薄膜應力等多種表面形貌技術參數。
KOSAKA小坂粗糙度儀，粗度計，粗度儀EF800、SE800、3D
KOSAKA小坂粗糙度輪廓一體機 SEF580A、EF800. SEF580A-G18D
KOSAKA小壇輪廓儀 EF550A、EF800
KOSAKA小坂臺階儀，膜厚儀，薄膜測厚儀KOSAKA小坂圓度儀，真圓度儀，圓柱度儀
KOSAKA小坂測量儀配件
KOSAKA小坂非接觸式表面形貌測量裝置
KOSAKA小坂微細深孔測量裝置ET200A 、ET4000 、ET8000 KOSAKA小坂晶圓檢測裝置
KOSAKA小坂關節管測量儀
KOSAKA小坂探針卡檢測設備
KOSAKA小坂高精度貼片機SS-N21 SS-L SS-G41 SS-C SS-R SS-B
KOSAKA小坂傳感器
非接觸式測量允許在不損壞樣品的情況下進行測量。 緊湊的光學布置可實現內徑的表面紋理測量，這是現有非接觸式探測器難以實現的。
<li id="cqmka"></li>