產品信息 特 點 測量精度高 可瞬間測量**量子效率（**量子收率） 可去除再激勵熒光發光 采用了積分半球unit，實現了明亮的光學系
產品信息
特長
堅持高精度測量
● 可即時測量**量子效率（**量子產率）
● 可去除再激發熒光發射
● 采用積分半球單元，實現明亮的光學系統。
● 低雜散光多通道光譜檢測器大大減少了紫外區的雜散光
堅持簡單的操作
● 使用專用軟件輕松操作
● 易于安裝/拆卸樣品測量池
● 節省空間且緊湊的設計
● 可以使用分光型激發光源選擇任意波長。
● 通過在軟件上指定激發波長的波長和步長值，可以進行自動測量。
堅持多功能
● 與粉末、溶液、固體（薄膜）和薄膜樣品兼容
● 豐富的分析功能
● 量子效率（量子產率）測量
● 激發波長相關性測量
● 發射光譜測量
● PL激發光譜測量
● EEM（激發發射矩陣）測量
用法
LED 和有機 EL 熒光粉的量子效率（量子產率）測量薄膜狀
樣品的透射熒光/反射熒光的量子效率（量子產率）測量-遠程熒光粉等的熒光樣品
量子點、熒光探針、生物場、包合物等的熒光測量。
染料敏化太陽能電池的量子效率（量子產率）測量
復雜化合物的測量
高精度的原因
1. 具有積分半球的理想光學系統
QE-2000 配備有積分半球。與積分球（全局）相比，積分球具有以下特點。
由于非發光部分（支架等）可以暴露在外面，所以可以保持很小的自吸收，并且可以實現理想的光學系統。
反射鏡使同一點的照度增加一倍，從而實現高靈敏度測量。
樣品測量池可以輕松安裝和拆卸，并且幾乎沒有損壞積分球內部的風險。
2.通過再激發熒光校正功能觀察“真實物性值”
在包括再激發熒光發射的狀態下，觀察包括器件的特性，而不是對材料本身物性的觀察，無法得到真實的物性值。QE-2000 可以通過利用積分半球的再激發熒光校正進行簡單而準確的測量。
3.低雜散光多通道光譜檢測器減少紫外區雜散光
使用傳統檢測器（多色儀）時，紫外區域的雜散光以高水平檢測，因此不適合測量量子效率（量子產率）。大冢電子通過開發消除雜散光的技術解決了這個問題。安裝在 QE-2000 上的多通道分光檢測器的雜散光強度約為我們傳統產品的 1/5，即使在紫外線區域也能實現高精度測量。
QE-2100
測量單元、檢測單元、光源單元為獨立類型
除標準功能外，還可根據應用進行擴展。
量子效率測光系統（分體式）QE-2100
特殊長度
溫度控制功能（50-300°C）可實現量子效率（量子產率）的溫度相關測量
通過根據應用構建光學系統，可以支持各種樣品。
該探測器還可用于總光通量測量和光分布測量
檢測器可以改變到另一個波長范圍
兼容紫外至近紅外寬帶（300 至 1600 nm）規格