產品信息 特 點 可測從0nm開始的低（殘留）相位差 光軸檢出同時可高速測量相位差(Re.) （相當于世界*快速的0.1秒以下來處理） 無驅動部，重復再現性高 設置的測量項目少，測量簡單
產品信息
特 點
● 可測從0nm開始的低（殘留）相位差 ● 光軸檢出同時可高速測量相位差(Re.) （相當于世界*快速的0.1秒以下來處理） ● 無驅動部，重復再現性高 ● 設置的測量項目少，測量簡單 ● 測量波長除了550nm以外，還有各種波長 ● Rth測量、全方位角測量 （需要option的自動旋轉傾斜治具 ● 通過與拉伸試驗機組合，可同時評價膜的偏光特性和光弾性 (本系統屬特注。）
測量項目
● 相位差（ρ[°], Re[nm]） ● 主軸方位角（θ[°]） ● 橢圓率（ε），方位角（γ） ● 三次元折射率（NxNyNz）
用 途
● 位相差膜、偏光膜、橢圓膜、視野角改善膜、各種功能性膜 ● 樹脂、玻璃等透明、非均質材料（玻璃有變形，歪曲等）
原 理
● 什么是RE-200 ● RE-200是光子結晶素子（偏光素子）、CCD相機構成的偏光計測模塊和透過的偏光光學系相組合，可高速且高精度的測量位相差（相位差）、及主軸方位角。CCD相機1次快門獲取偏光強度模式，沒有偏光子旋轉的機構，系統整體上是屬于小型構造，長時間使用也能維持穩定的性能。